Leitlinie instrumentelle zahnärztliche Funktionsanalyse – Teil 3

Die Kieferrelationsbestimmung

In den ersten beiden Abschnitten der Leitlinie zur instrumentellen zahnärztlichen Funktionsanalyse wurden die kondyläre Bewegungsaufzeichnung, die Bewegungsanalyse sowie die Kondylenpositionsanalyse thematisiert. Dieser dritte Teil der Leitlinie ist der Kieferrelationsbestimmung mittels Stützstift-Registrat gewidmet.

Abbildung 1: Übliche Stützstiftplatten im Ober- und Unterkiefer, wenn mit dem Condylator®-System registriert wird. © Utz

Abbildung 2: Stützstiftplatten zur Festlegung der zentrischen Kondylenposition erfordern eine möglichst minimale Bisssperrung durch den Stützstift. Gleichzeitig darf in dieser Position kein interokklusaler Kontakt zwischen den Zähnen auftreten. © Utz
Abbildung 3: Zur Ermittlung der zentrischen Kondylenposition sind nur gering ausgeprägte Seitbewegungen sinnvoll, weil anderenfalls eine zu große Bisssperrung erforderlich wird, wenn okklusale Interferenzen vermieden werden sollen. © Utz
Abbildung 4: Verschlüsselung auf der Pfeilwinkelspitze mit dem Plexiglas-Rondell des Condylator-Systems. © Utz

Zu berücksichtigen ist, dass die Leitlinie explizit Bezug nimmt auf die bereits existente wissenschaftliche Stellungnahme der DGPro sowie der DGFDT zur Kieferrelationsbestimmung [Utz et al., 2010]. Die nachfolgenden Ausführungen gelten daher ausschließlich für die Kieferrelationsbestimmung mit Hilfe der Stützstift-Registrierung, weil der Stellenwert hierfür angebotener elektronischer Geräte für die Verkehrskreise offensichtlich einer entsprechenden Einordnung bedarf.

Definition

Die zentrale Stützstift-Registrierung stellt ein Verfahren der Zuordnung des Unterkiefers zum Oberkiefer mit dem Ziel dar, über die intraorale Aufzeichnung einer Pfeilwinkelspitze eine horizontale Kieferrelation zu bestimmen (alternative Bezeichnungen: Pfeilwinkel-Registrierung, Aufzeichnung des Gotischen Bogens, grafisches Verfahren, McGrane-Registrierung [McGrane, 1949]). Als Hilfsmittel werden „Stützstiftplatten“ im Ober- und Unterkiefer im zahntechnischen Labor hergestellt, die auf Höhe der Okklusionsebene und zwischen den Zahnreihen verlaufen und bei Bezahnten mit Kunststoff an den Zahnreihen adaptiert werden. Sie umfassen – in der Regel im Oberkiefer – einen vertikal befestigten „zentralen Stützstift“, der die Okklusionsebene geringfügig überragt und etwa in Höhe zwischen den zweiten Prämolaren und den ersten Molaren sowie über der Mittellinie des Gaumens angebracht wird („im Zentrum der Belastung“).

Passend dazu im Unterkiefer wird in Höhe der Okklusionsebene und transversal zwischen den Zahnreihen – unter Verdrängung der Zunge – eine Metallplatte entsprechend in Unterschnitten der Dentition befestigt (Abbildung 1). Nach dem Einfügen dieser Hilfsmittel in den Mund kann der höhenverstellbare zentrale Stützstift so eingestellt werden, dass bei Kieferschluss und in zentrischer Kondylenposition lediglich ein „interokklusaler“ Kontakt zwischen dem Stift und der Platte entsteht, die Okklusalflächen der Zahnreihen selbst jedoch – möglichst minimal – diskludiert sind [Gerber, 1986, 1960]. Bei Kieferschluss in zentrischer Kondylenposition besteht intraoral zum Gegenkiefer daher nur noch ein Kontakt über den Stützstift (Abbildung 2).

Trägt man eine Farbschicht auf der Schreibplatte auf, können – bei entsprechender Kiefer-Sperrung durch die Schraube – die horizontalen Grenzbewegungen der Mandibula ohne weitere interokklusale Kontakte abgefahren werden. Durch wiederholte Lateralbewegungen nach rechts und links wird auf der Unterkieferplatte ein „Pfeilwinkel“ sichtbar. An der Stelle, wo sich die beiden Lateralbewegungen in der Medianebene treffen, entsteht eine „Pfeilwinkelspitze“ („most retruded position of function“ [McGrane, 1949]). Diese Position des Stützstiftes auf der Platte ist eine gut reproduzierbare dorsale Grenzposition des Unterkiefers. Sie wird bei dieser Methode als „zentrische Kondylenposition“ definiert (Abbildung 3 und 4).


Leitlinie zur instrumentellen zahnärztlichen Funktionsanalyse

Die Deutsche Gesellschaft für Funktionsdiagnostik und -therapie (DGFDT) hat in vier Kapiteln eine S2k-Leitlinie zur instrumentellen zahnärztlichen Funktionsanalyse erstellt. Die wichtigsten Informationen finden Sie hier zusammengefasst, beginnend mit dem ersten Kapitel zu den kinematischen Aspekten des Unter-kiefers: der instrumentellen Bewegungsanalyse.

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Im Bereich der Techniken der instrumentellen Funktionsanalyse sind die wissenschaftlichen Stellungnahmen erstmals durch eine S2k-Leitlinie abgelöst worden. Eine Kurzfassung dieser Leitlinie veröffentlicht die zm in vier Teilen. Dieser zweite Teil ist dem Abschnitt der Kondylenpositionsanalyse gewidmet und beschreibt den Inhalt des Verfahrens, seine Ziele und den Nutzen für die zahnärztliche Praxis.

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In den ersten beiden Abschnitten der Leitlinie zur instrumentellen zahnärztlichen Funktionsanalyse wurden die kondyläre Bewegungsaufzeichnung, die Bewegungsanalyse sowie die Kondylenpositionsanalyse thematisiert. Dieser dritte Teil der Leitlinie ist der Kieferrelationsbestimmung mittels Stützstift-Registrat gewidmet.

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